摘要: 随着集成电路设计技术的发展和芯片集成度的提高，验证已经成为芯片设计流程中的主要瓶颈。本文设计了一个基于FPGA的智能卡验证平台，并对验证方法做了详细阐述。本文对于双界面智能卡芯片验证的成功实践，不仅是对FPGA验证理论的证实，而且验证的思路和方法对其他芯片有一定的指导意义。
引言
随着EDA技术和半导体制造工艺的不断发展，单芯片的功能越来越强,结构越来越复杂,设计和制造成本也大幅增加。尤其是进入90 nm后，芯片总体设计成本增加了20%左右，即使采用130 nm工艺，单次芯片制造的成本也在数十万美元，这使得验证工作在整个设计过程中的作用显得越来越重要。验证贯穿集成电路设计整个过程，从制定系统SPEC，验证工作就已经开始，从架构设计、行为级的系统建模到模块化的设计和实现，再到生成网表和后端布局、布线等一系列过程中，验证工作都一直伴随其中，通过各个阶段的验证，可以避免把上一个阶段的问题带到下一个阶段。
